UMET 太陽盲紫外相機測試系統是一款先進的光學檢測設備，專門用于評估太陽盲紫外（SBUV）相機的性能。這類相機專門探測波長范圍在240nm到280nm的紫外光，具有260nm的峰值敏感度，廣泛應用于電暈現象檢測等特殊場景。

傳統的SBUV相機靈敏度測試通常采用高溫黑體方法，這種方式會受限于測試條件的影響，結果可能存在較大的誤差，甚至偏向對太陽光敏感（波長超過280nm）的相機。UMET系統的誕生，成功解決了這一問題。

UMET系統采用260nm單色光源和可見光兩種波段進行測試，尤其是精準使用與相機峰值敏感度相同的單色光源（260nm），從而真實反映出相機對電暈現象的實際敏感性。與傳統方法相比，UMET避免了由于測試環境變化帶來的誤差，實現了更加準確和客觀的測量結果。

UMET系統模塊化設計，包含CDT準直儀、UV260單色紫外光源、MRW8轉輪、目標物套件以及專用控制軟件等模塊。這些模塊相互協作，可模擬真實使用場景，精確評估相機性能指標，包括最小可檢測輻照度（MDI）、等效噪聲輻射通量（NERE）、事件計數響應函數（ECRF）、可變目標檢測性（VTD）、紫外分辨率、可見光分辨率、中心對準誤差、外圍對準誤差和隨機位置誤差等。

UMET提供的軟件不僅支持紫外與可見光圖像采集，還可以精確計算對準誤差和視場角（FOV），大幅提升了測試效率與準確性。此外，系統還提供傳統黑體方法的可選模塊（HTB25D-1200黑體），滿足特殊用戶需求。

針對成本敏感用戶，UMET還提供了簡化版本（UMET-S），移除昂貴的CDT準直儀，采用直接視圖方式進行測試，降低成本的同時，也滿足了基本性能評估需求。

作為市場上商用計算機化SBUV相機全面測試系統，UMET不僅是科學研究機構研發下一代紫外相機的重要工具，更是監控和保障現有相機長期性能穩定性的有效手段。UMET的誕生，確立了SBUV相機性能測試的新標準。