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Inframet TCB差分面源黑體:熱像儀MRTD、NETD綜合性能評定
先進紅外成像系統(tǒng)綜合性能評定?TCB差分面源黑體的核心優(yōu)勢在于其優(yōu)秀的溫度分辨率(可達1mK)、溫度穩(wěn)定性2mk和均勻性,這使其成為評定紅外熱像儀綜合性能的工具,噪聲等效溫差(NETD)測試、最小可分辨溫差(MRTD)測試、非均勻性校正(NUC),遠不止于簡單的溫度校準。?噪聲等效溫差(NETD)測試:NETD是衡量熱像儀靈敏度的關鍵指標,反映了其能分辨的最小溫度差異。測試時,需要一個溫差極小但極其穩(wěn)定的輻射源。TCB差分面源黑體能夠提供精確、穩(wěn)定的差分溫度,是進行精確NET...
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D&S AE1/RD1發(fā)射率測量儀:在建筑科學與能源效率領域的關鍵應用
在建筑科學與能源效率領域的關鍵應用在建筑領域,對材料表面輻射特性的精確控制是實現(xiàn)節(jié)能減排、提升室內(nèi)舒適度和滿足綠色建筑規(guī)范的核心技術之一。D&SAE1/RD1發(fā)射率測量儀作為一款便攜、合規(guī)的測量工具,在這一領域扮演著連接設計理念、材料性能與法規(guī)執(zhí)行的關鍵角色。1.建筑玻璃用低輻射(Low-E)涂層Low-E玻璃是現(xiàn)代節(jié)能建筑的標志性技術之一,其核心在于一層微觀薄膜涂層。?工作機理:Low-E涂層具有光譜選擇性,它對太陽輻射中的可見光波段保持高透射率,確保室內(nèi)采光;而對長波紅外...
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D&S AE1/RD1發(fā)射率測量儀 vs.傅里葉光譜儀 (FTIR)區(qū)別、優(yōu)勢及應用
D&SAE1/RD1發(fā)射率測量儀vs.傅里葉光譜儀(FTIR)區(qū)別、優(yōu)勢及應用便攜式發(fā)射率計vs.傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR)在發(fā)射率測量領域,D&SAE1/RD1發(fā)射率測量儀和實驗室FTIR光譜儀是兩種主流工具,但它們的定位和用途截然不同,是互補而非競爭關系。?便攜式發(fā)射率測量儀(D&SAE1/RD1)?定位:現(xiàn)場質量控制、合規(guī)性驗證和快速研發(fā)篩選的優(yōu)秀工具。?優(yōu)勢:速度快、便攜、操作簡單、成本相對較低。關鍵的是,它直接測量的是眾多法規(guī)和工程計算所需的總半球發(fā)射率積分值...
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3000°C超高溫黑體核心應用——輻射測溫領域的基準、溫度傳遞標準
核心應用:輻射測溫的溫度標準3000°C超高溫黑體重要且直接的應用,是作為輻射測溫領域的基準或傳遞標準,用于校準其他各類非接觸式測溫和熱像儀設備。1.錨定測量基準:校準高溫計與熱像儀校準的基本原理是比較法。將被校準的設備(如工業(yè)高溫計或紅外熱像儀)對準一個溫度已知且極其穩(wěn)定的標準黑體輻射源(例如,精確控制在3000°C)。通過比較被測設備的讀數(shù)與黑體源的真實溫度,就可以確定其測量誤差,并生成校準證書或調整其內(nèi)部參數(shù)。在許多關鍵工業(yè)領域,如鋼鐵冶煉、玻璃制造、半導體以及航空航天...
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定向發(fā)射率與半球發(fā)射率的區(qū)別?發(fā)射率測量儀D&S AE1/RD1 優(yōu)勢
1.光譜發(fā)射率與全波長發(fā)射率材料的輻射能力在不同波長上存在差異,這種依賴于波長的特性被稱為光譜發(fā)射率(spectralemissivity)。對于需要精細分析特定波段輻射特性的應用,如設計光譜選擇性涂層,光譜發(fā)射率至關重要。然而,在大多數(shù)宏觀熱分析中,工程師更關心的是材料在整個熱輻射波譜范圍內(nèi)的總體輻射能力。將光譜發(fā)射率在所有波長上進行積分,便得到“全波長”或“總”發(fā)射率(totalemissivity),這是一個綜合性的參數(shù),極大地簡化了熱輻射的工程計算。2.定向發(fā)射率與半...
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IMPAC紅外測溫儀與熱電偶/熱像儀的對比及選型建議
在工業(yè)測溫場景中,IMPAC紅外測溫儀、熱電偶和熱像儀各有優(yōu)勢,選擇需基于具體需求。以下從測溫原理、適用場景、優(yōu)缺點三方面展開對比,并明確紅外測溫儀的適用條件。一、核心差異對比技術類型IMPAC紅外測溫儀熱電偶熱像儀測溫原理非接觸式,通過檢測物體表面紅外輻射能量接觸式,利用熱電效應(兩種金屬溫差產(chǎn)生電動勢)非接觸式,將紅外輻射能量分布轉化為熱圖像測溫范圍-50℃~3000℃(IMPAC型號覆蓋廣)-270℃~2800℃(極端條件)-20℃~2000℃(常規(guī)型號)響應速度毫秒級...
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?3000°C超高溫黑體源的構建挑戰(zhàn):涉及材料、系統(tǒng)及控制技術
3000°C超高溫黑體源的構建挑戰(zhàn):涉及材料、系統(tǒng)及控制技術本文將理論與實際產(chǎn)品結合起來,詳細闡述將3000°C的理想黑體模型轉化為實驗室中穩(wěn)定、可用的儀器設備所涉及的材料科學、系統(tǒng)設計及精密控制技術。1.耐火材料的選擇:石墨與鎢的核心地位在高達3000°C的溫度下,材料的選擇變得極為有限。石墨是構建此類高溫爐的核心材料。與金屬不同,石墨在標準大氣壓下沒有熔點,而是在約3642°C時升華。更特別的是,其機械強度在一定溫度范圍內(nèi)會隨溫度升高而增強。因此,石墨被廣泛用于制造加熱元...
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D&S AE1/RD1 半球發(fā)射率測量儀:航空航天及汽車涂層材料發(fā)射率測量(附表)
在航空航天及汽車工業(yè)中的材料發(fā)射率測量D&SAE1/RD1半球發(fā)射率測量儀在航空航天、國防和汽車等高技術、高風險領域,材料的發(fā)射率不再僅僅是能源效率的問題,而是直接關系到系統(tǒng)生存能力、任務成敗和人員安全的關鍵性能參數(shù)。在這些應用場景中,由不準確的發(fā)射率數(shù)據(jù)所引發(fā)的風險被急劇放大,從而對測量工具的可靠性和標準符合性提出了更為嚴苛的要求。1.航空航天熱控制太空環(huán)境——高真空和強烈的太陽輻射——使得熱輻射成為航天器熱量交換的途徑。因此,通過精確設計和控制表面涂層的發(fā)射率,可以有效保...
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3000℃超高溫黑體源——助力高溫工業(yè)過程監(jiān)測、航空航天熱防護系統(tǒng)驗證
高溫工業(yè)與航空航天前沿本節(jié)聚焦于那些材料本身達到或需要經(jīng)受3000°C考驗的場景,在這些場景中,物體的輻射特性對于過程控制和系統(tǒng)生存至關重要。1.過程監(jiān)控:冶金與玻璃生產(chǎn)中的應用在鋼鐵和玻璃等基礎工業(yè)中,生產(chǎn)過程涉及高溫的熔融材料(例如,鋼水溫度超過1600°C,玻璃熔液超過1500°C)。在這些環(huán)境中,非接觸式的光學或紅外高溫計是進行溫度監(jiān)控的手段。雖然這些工業(yè)過程的溫度通常不會達到3000°C,但用于監(jiān)控它們的高溫計必須具備覆蓋這些高溫區(qū)的寬量程和高精度。如之前所述,30...
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Inframet DT system:紅外熱像儀MRTD,SiTF,NETD,MTF常規(guī)測試
熱成像儀的參數(shù)多達上百種,要全部測完,既不現(xiàn)實也沒必要。事實上,即便是專業(yè)測試人員,也只會關注其中一小部分核心參數(shù),絕大多數(shù)參數(shù)的定義和測試方法甚至不為人知。在實際操作中,我們之所以只測量少數(shù)幾個關鍵參數(shù),主要有以下幾個原因:?首先,一些參數(shù)的“代表性”很強,足以涵蓋其他參數(shù)的功能。??MRTD(最小可分辨溫差)是最重要的參數(shù)之一。它同時反映了熱成像儀的溫度靈敏度和空間分辨率,是多個國家認可的測試標準中強制要求的參數(shù)。因此,許多測試團隊會將監(jiān)控類熱成像儀的測試簡化為只測MRT...
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3000K高溫黑體在高溫材料發(fā)射率測量實驗中的關鍵作用
核心基準:高溫黑體在發(fā)射率測量中的關鍵作用在高溫材料法向光譜發(fā)射率的精確測量中,高溫黑體扮演著核心角色。它不僅是整個測量裝置的關鍵組成部分,更是確保測量結果準確可靠的理論基石和數(shù)據(jù)基準。?理論基石:發(fā)射率測量的基準源根據(jù)物理學定義,材料的法向光譜發(fā)射率是指物體在法向的光譜輻射亮度與相同條件下黑體的法向光譜輻射亮度之比3。這一定義明確指出,任何發(fā)射率的測量都必須以一個理想的輻射源——黑體作為參照。在該研究建立的測量模型中,探測系統(tǒng)輸出信號的計算公式明確包含了標準黑體的光譜發(fā)射率...
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?IMPAC IGA 140 高溫計如何測量非純凈金屬顆粒火焰溫度
IMPACIGA140高溫計如何測量非純凈金屬顆粒火焰溫度在工業(yè)生產(chǎn)和科學研究中,準確測量燃燒火焰的溫度是一項關鍵但充滿挑戰(zhàn)的任務。火焰的動態(tài)、高溫和復雜環(huán)境對傳統(tǒng)測溫方法構成了嚴峻考驗。非接觸式紅外測溫技術為此提供了有效的解決方案,其中,IMPACIGA140高溫計因其設計和性能,在實際應用中表現(xiàn)出色。本文將結合已發(fā)表的科學實驗、儀器的工程設計和光譜學原理,闡述其能夠可靠測量火焰溫度的原因。科學實驗中的性能驗證儀器的真實性能需在嚴苛的科研環(huán)境中檢驗。在一項發(fā)表于《科學報告》...
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