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Sekidenko OR4000T 半導體高溫計可用于RTP、HDP-CVD、MOCVD、UV固化和其它各種半導體工藝過程，應用于半導體硅片，外延，晶圓鍍膜等各種工藝的高精度測溫;OR4000T型具備多通道能力，支持高達2kHz的讀取速率，符合半導體應用中極為嚴格的要求。 其采用模塊化設計，可快速量身定制。
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Sekidenko OR4000T 半導體高溫計可用于RTP、HDP-CVD、MOCVD、UV固化和其它各種半導體工藝過程，應用于半導體硅片，外延，晶圓鍍膜等各種工藝的高精度測溫;OR4000T型具備多通道能力，支持高達2kHz的讀取速率，符合半導體應用中極為嚴格的要求。 其采用模塊化設計，可快速量身定制。
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