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  • UV400 GaN基外延片測溫儀
    UV400 GaN基外延片測溫儀

    產品廠地

    上海市

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    更新時間

    2025-03-18

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    產品描述

    UV400 GaN基外延片測溫儀用于GaN基外延的晶圓表面溫度和反射率真實測量,溫度范圍650…1300℃
  • Sekidenko OR4000E半導體薄膜高溫計
    Sekidenko OR4000E半導體薄膜高溫計

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    2025-03-18

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    產品描述

    Sekidenko OR4000E半導體薄膜高溫計能夠自動探測測量材料發射率,可用于RTP、HDP-CVD、MOCVDUV固化和其它各種半導體工藝過程。OR4000E型具有類似OR4000T的高速性能,并且兼具實時輻射率補償的優點。其采用塊化設計,可快速量身定制,滿足不同的的工藝應用要求。
  • Sekidenko OR4000T 半導體高溫計
    Sekidenko OR4000T 半導體高溫計

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    2025-03-18

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    產品描述

    Sekidenko OR4000T 半導體高溫計可用于RTP、HDP-CVD、MOCVD、UV固化和其它各種半導體工藝過程,應用于半導體硅片,外延,晶圓鍍膜等各種工藝的高精度測溫;OR4000T型具備多通道能力,支持高達2kHz的讀取速率,符合半導體應用中極為嚴格的要求。 其采用模塊化設計,可快速量身定制。
  • Sekidenko OR400M半導體外延片測溫儀
    Sekidenko OR400M半導體外延片測溫儀

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    2025-03-18

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    產品描述

    Sekidenko OR400M半導體外延片測溫儀產品系列的應用范圍擴展至3.3um-5.2um的中紅外波長范圍。OR400M可進行單通溫度測量,用于半導體設備的高精密溫度測量,用于硅片,腔室的精確測溫。OR400M支持RS-232和模擬數據接口。OR400M設計緊湊,易于集成,可滿足許多工藝應用的要求。
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